Skip Navigation Linksلیست مقالات ترجمه شده / خرید و دانلود
764,500

پیش از اقدام به خرید ترجمه فارسی می توایند نسخه انگلیسی را به صورت رایگان دانلود و بررسی نمایید. متن چکیده و ترجمه آن در پایین همین صفحه قابل مشاهده است.
دانلود رایگان مقاله انگلیسی
موسسه ترجمه البرز اقدام به ترجمه مقاله " مهندسی كامپيوتر " با موضوع " عیب یابی برپایه داده کاوی " نموده است که شما کاربر عزیز می توانید پس از دانلود رایگان مقاله انگلیسی و مطالعه ترجمه چکیده و بخشی از مقدمه مقاله، ترجمه کامل مقاله را خریداری نمایید.
عنوان ترجمه فارسی
عیب یابی برپایه داده کاوی
نویسنده/ناشر/نام مجله :
JOURNAL OF ELECTRONICS
سال انتشار
2005
کد محصول
1006248
تعداد صفحات انگليسی
7
تعداد صفحات فارسی
11
قیمت بر حسب ریال
764,500
نوع فایل های ضمیمه
Pdf+Word
حجم فایل
673 کیلو بایت
تصویر پیش فرض




Abstract

This paper presents a fault-detection method based on the phase space reconstruction and data mining approaches for the complex electronic system. The approach for the phase space reconstruction of chaotic time series is a combination algorithm of multiple autocorrelation and Г-test, by which the quasi-optimal embedding dimension and time delay can be obtained. The data mining algorithm, which calculates the radius of gyration of unit-mass point around the centre of mass in the phase space, can distinguish the fault parameter from the chaotic time series output by the tested system. The experimental results depict that this fault detection method can correctly detect the fault phenomena of electronic system

چکیده

این مقاله به ارائه روش "عیب یابی" بر پایه رویکردهای  "بازسازی فضای حالت" و "داده کاوی" برای سیستم پیچیده  الکترونیکی می پردازد. رویکرد "بازسازی فضای حالت" سریهای زمانی آشفتگی، یک الگوریتم ترکیبی از  " خود همبستگی چندتایی" و ازمون г  می باشد. که به وسیله تاخیر زمانی و "بعد محاطی شبه بهینه" ، بدست می آید.  الگوریتم داده کاوی به شکلی است  که شعاع گردش نقاط به دور مرکز توده در فضای حالت، می تواند پارامتر عیب را از سری های زمانی آشتفتگی به وسیله سیستم آزمون شده ، تشخیص دهد. نتایج تجربی نشان دهند آن است که این روش عیب یابی می تواند به دقت پدیده عیب سیستم الکترونیکی را نشان دهد.

1-مقدمه

هدف فرایند عیب یابی ، نمایش به موقع پدیده های غیرنرمال موجود در حین عملیات سیستم مورد آزمون (STU) می باشد. عیب را به صورت برآورد نوع، و شدت عیب هر موردی که در آن پدیده عیب روی داده ، تعریف می نماییم. تکنیکهای اولیه عیب یابی و تعاریف آن، به طور کلی بر پایه مدلهای هیورستیک تشخیص عیب و کلاس بندی قرار گرفته اند. آنها از تجربه های عملی مهندسان و تکنولوژیست ها برای ساختن انواع گوناگون "پایگاه داده برداری عیب یابی" به وسیله تکنیک فرایندی منفرد ( وضعیت عملیاتی STU به وسیله آنالیز در محدوده تناوبی یا زمان مشخص می شود) ، استفاده کردند...


خدمات ترجمه تخصصی و ویرایش مقاله مهندسی كامپيوتر در موسسه البرز


این مقاله ترجمه شده مهندسی كامپيوتر در زمینه کلمات کلیدی زیر است:





Chaotic time series
Phase space reconstruction
Data mining
Fault detection

ثبت سفارش جدید