چکیده

فن آوری های نوظهور با سیستم های VLSI پیچیده تر و نیز گیت ها و ترانزیستورهای کوچکتری سر و کار دارند که به شدت تحت تاثیر نویزهای الکترومغناطیسی و خطاهای تک ­رخداد گذرا (SET) می باشند. به دلیل این افزایش حساسیت و کاهش اندازه، ممکن است چند خطای نرم همراه با آن ظاهر شود که می تواند به خطاهای همزمان متعددی منجر شود. در این مقاله طرح شناسایی و تصحیح خطاهای متعدد و همزمان برای جمع کننده ها و ضرب کننده ها بر اساس ترکیبی از طرح پیش بینی پریتی و افزونگی سه ماژولیِ نیمه توزیع ارائه می شود. این طرح متناسب با جمع کننده ها یا ALU های دارای قابلیت پیش بینی رقم نقلی و بدون رقم نقلی بوده که در آنها منطق رقم نقلی، بزرگترین بخش مدار می باشد. بازدهی این طرح به طور اساسی توسط محاسبات احتمالی تحلیل شده است. شبیه سازی تزریق چند خطای تصادفی برای تایید عملکرد پیش بینی شده، انجام شده است.

1-مقدمه

هر چه پیچیدگی طراحی مدارات مجتمعِ در حال تحول افزایش یابد، آسیب پذیری قطعات با استفاده از گیت های سریع تر و ترانزیستورهای کوچکتر افزایش خواهد یافت. این به دلیل حساسیت بیشتر آنها به خطاهای گذرای ناشی از نویز الکترومغناطیسی، پرتوهای کیهانی خارج از زمین، تداخل سیگنالی، نویز منبع تغذیه و زیرلایه می باشد. به این ترتیب، احتمال وقوع چند خطای نرم به طور همزمان حتی در صورت وجود یکی از علل خطا افزایش می یابد....

 میتوانید از لینک ابتدای صفحه، مقاله انگلیسی را رایگان دانلود فرموده و چکیده انگلیسی و سایر بخش های مقاله را مشاهده فرمایید