Skip Navigation Linksلیست مقالات ترجمه شده / خرید و دانلود
1,331,000

پیش از اقدام به خرید ترجمه فارسی می توایند نسخه انگلیسی را به صورت رایگان دانلود و بررسی نمایید. متن چکیده و ترجمه آن در پایین همین صفحه قابل مشاهده است.
دانلود رایگان مقاله انگلیسی
موسسه ترجمه البرز اقدام به ترجمه مقاله " مهندسی كامپيوتر " با موضوع " قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد " نموده است که شما کاربر عزیز می توانید پس از دانلود رایگان مقاله انگلیسی و مطالعه ترجمه چکیده و بخشی از مقدمه مقاله، ترجمه کامل مقاله را خریداری نمایید.
عنوان ترجمه فارسی
قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
نویسنده/ناشر/نام مجله :
IET Computers & Digital Techniques
سال انتشار
2010
کد محصول
1001395
تعداد صفحات انگليسی
15
تعداد صفحات فارسی
41
قیمت بر حسب ریال
1,331,000
نوع فایل های ضمیمه
Pdf+Word
حجم فایل
1 مگا بایت
تصویر پیش فرض




Abstract

Reduced device-level reliability and increased within-die process variability will become serious issues for future field-programmable gate arrays (FPGAs), and will result in faults developing dynamically during the lifetime of the integrated circuit. Fortunately, FPGAs have the ability to reconfigure in the field and at runtime, thus providing opportunities to overcome such degradation-induced faults. This study provides a comprehensive survey of fault detection methods and fault-tolerance schemes specifically for FPGAs and in the context of device degradation, with the goal of laying a strong foundation for future research in this field. All methods and schemes are quantitatively compared and some particularly promising approaches are highlighted

چکیده

کاهش قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش  تنوع در پروسه های within-die را می­توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه ریزی-فیلد(FPGA) دانست که منجر به توسعه ی پویای خطاها در طول چرخه ی عمر مدار ادغام یافته میشود. خوشبختانه، FPGA ها  توانایی پیکربندی مجدد در فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین خطاهایی فراهم می­سازند. این طالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد. همه ی متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد تأکید قرار گرفته اند.

واژگان کلیدی: قابلیت اطمینان، تحمل پذیری در برابر خطا، درگاه قابل برنامه ریزی فیلد،

1-مقدمه

با توجه به اینکه روز به روز بر چالش های مرتبط با مدار های ادغام یافته اعم از بروز خطا، معایب، قابلیت تغییر پروسه ها و قابلیت اطمینان می­گذرد، آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی0فیلد از این قاعده مستثنی نیستند؛ یکی از مطالعه هایی که در این زمینه صورت  گرفته است پیشنهاد داده است که تحمل پذیری را میتوان برای FPGA های بزگر در آینده و فراتر از تکنولوژی گره ی 45 نانومتری ضروری دانست[1]. FPGA دارای مزایایی کلیدی برای مدار های ادغام یافته ی خاصی برای رسیدن به هدف تحمل پذیری در برابر خطا میباشد. در ابتدا، FPGA ها شامل آرایه هایی از منابع جنریک بوده که افزونگی ذاتی را برای آنها به همراه دارد. دوم اینکه آنها را میتوان در فیلد پیکربندی کرد. این موارد بر روی دامنه ای از پژوهش ها و سیستم های پایدار در برابر خطا بکار گرفته شده است...


خدمات ترجمه تخصصی و ویرایش مقاله مهندسی كامپيوتر در موسسه البرز


ثبت سفارش جدید