Skip Navigation Linksلیست مقالات ترجمه شده / خرید و دانلود
940,500

پیش از اقدام به خرید ترجمه فارسی می توایند نسخه انگلیسی را به صورت رایگان دانلود و بررسی نمایید. متن چکیده و ترجمه آن در پایین همین صفحه قابل مشاهده است.
دانلود رایگان مقاله انگلیسی
موسسه ترجمه البرز اقدام به ترجمه مقاله " مهندسی كامپيوتر " با موضوع " خطاهای نرم در سیستم های کامپیوتری پیشرفته " نموده است که شما کاربر عزیز می توانید پس از دانلود رایگان مقاله انگلیسی و مطالعه ترجمه چکیده و بخشی از مقدمه مقاله، ترجمه کامل مقاله را خریداری نمایید.
عنوان ترجمه فارسی
خطاهای نرم در سیستم های کامپیوتری پیشرفته
نویسنده/ناشر/نام مجله :
Design & Test of Computers, IEEE
سال انتشار
2005
کد محصول
1003579
تعداد صفحات انگليسی
9
تعداد صفحات فارسی
19
قیمت بر حسب ریال
940,500
نوع فایل های ضمیمه
Pdf+Word
حجم فایل
491 کیلو بایت
تصویر پیش فرض



 Abstract
 

As the dimensions and operating voltages of computer electronics shrink to satisfy consumers' insatiable demand for higher density, greater functionality, and lower power consumption, sensitivity to radiation increases dramatically. In terrestrial applications, the predominant radiation issue is the soft error, whereby a single radiation event causes a data bit stored in a device to be corrupted until new data is written to that device. This article comprehensively analyzes soft-error sensitivity in modern systems and shows it to be application dependent. The discussion covers ground-level radiation mechanisms that have the most serious impact on circuit operation along with the effect of technology scaling on soft-error rates in memory and logic

چکیده

همانطور که ابعاد و ولتاژهای عملیاتی قطعات الکترونیکی کامپیوتر برای برآوردن تقاضای سیری ناپذیر مصرف کنندگان برای تراکم بالاتر، قابلیتهای بیشتر و مصرف انرژی کمتر کوچک می شود، حساسیت به تابش بطور چشمگیری افزایش می یابد. در برنامه های کاربردی زمینی، موضوع غالب اشعه، خطای نرم است که به موجب آن یک رویداد تابش موجب می شود که داده بیتی ذخیره شده در یک دستگاه تا زمان نوشته شدن داده جدید در آن دستگاه ،خراب شود. این مقاله به صورت جامع، حساسیت خطای نرم در سیستم های مدرن را تحلیل کرده و نشان می دهدکه این امر به کاربرد بستگی دارد. بحث و بررسی، مکانیزم های تابش در سطح زمین، همراه با اثر مقیاس گذاری تکنولوژی بر نرخ خطای نرم در حافظه و منطق، که اثری جدی بر عملکرد مدار دارد، را پوشش می دهد

1-مقدمه

در دو دهه گذشته ،محققان سه مکانیزم کلیدی اشعه را کشف کردند که منجر به خطای نرم در دستگاه های نیمه هادی در ارتفاعات زمینی می شود. در اواخر s1970 ذرات آلفای ساطع شده از اورانیوم بسیار کم و ناخالصیهای توریم در بسته بندی مواد اثبات شد که علت غالب خطاهای  نرم در دستگاههای DRAM است [1]. در همان دوران ، محققان نشان دادند که نوتون پرانرژی (بیش از 1 میلیون الکترون ولت یا Mev) از تابش کیهانی می تواند خطاهای نرم را در دستگاههای نیمه هادی [2] از طریق یون ثانویه تولید شده توسط واکنش نورتون با هسته سیلیکون، ایجاد نماید. در اواسط s1990 ، اثبات شد که اشعه کیهانی با انرژی بالا،منبع غالب خطاهای نرم در دستگاههای DRAM است...


خدمات ترجمه تخصصی و ویرایش مقاله مهندسی كامپيوتر در موسسه البرز


این مقاله ترجمه شده مهندسی كامپيوتر در زمینه کلمات کلیدی زیر است:





circuit operation
ground-level radiation
mechanism soft-error
sensitivity technology scaling

ثبت سفارش جدید